岛国动作片av-欧美天堂一区二区-欧美不卡一卡二卡-日本一区二区免费在线播放-强行无套内谢大学-被污辱被禁锢强制的爱h-久久av喷吹av高潮av懂色-欧美A V 一区二区-亚洲成人手机在线黄色电影,中文字幕伊人影院,天堂av社区,国产精品第一页在线播放

全站搜索 產(chǎn)品中心 新聞中心

在SMT(表面貼裝技術(shù))生產(chǎn)制造里,ICT測(cè)試和首件檢測(cè)區(qū)別顯著,具體如下:

一、定義與目的

  • ICT測(cè)試:全稱In – Circuit Test(在線測(cè)試 ),通過(guò)測(cè)試探針接觸PCB板測(cè)試點(diǎn),檢查電路通斷、電壓電流等電氣性能,識(shí)別元器件漏裝、錯(cuò)裝、參數(shù)偏差及線路板開(kāi)短路等故障 。核心是對(duì)電路板電氣性能全方位檢測(cè),保障單板功能基礎(chǔ)。
  • 首件檢測(cè):正式批量生產(chǎn)前,對(duì)首件產(chǎn)品(首塊貼裝好元器件待焊接或焊接后的電路板 )全面檢測(cè),驗(yàn)證生產(chǎn)條件(如設(shè)備、工藝、物料等 )是否正確,防止批量性質(zhì)量問(wèn)題。重點(diǎn)是提前攔截生產(chǎn)初始階段因各種因素(如換線、換料、設(shè)備調(diào)整 )引發(fā)的錯(cuò)誤,是預(yù)防批量不良的關(guān)鍵防線。

二、測(cè)試時(shí)機(jī)與場(chǎng)景

  • ICT測(cè)試:一般在SMT焊接工序(如回流焊、波峰焊 )完成后,處于PCBA(印刷電路板組裝 )生產(chǎn)流程中后段,對(duì)已焊接好的電路板進(jìn)行電氣性能篩查,屬于量產(chǎn)階段的常規(guī)檢測(cè)環(huán)節(jié),用于把控每塊板的質(zhì)量 。
  • 首件檢測(cè):在以下場(chǎng)景執(zhí)行,處于生產(chǎn)啟動(dòng)或變更節(jié)點(diǎn):
    • 新訂單/新機(jī)種首次生產(chǎn)時(shí);
    • 更換操作者、設(shè)備(如貼片機(jī)換料、調(diào)整鋼網(wǎng) )、工藝裝備(如更換夾具 )后;
    • 更改技術(shù)條件、工藝方法、工藝參數(shù),或采用新材料/材料代用后。

三、測(cè)試內(nèi)容與方法

  • ICT測(cè)試
    • 內(nèi)容:聚焦電氣性能,檢測(cè)電阻、電容、電感等元器件參數(shù)值,驗(yàn)證電路連通性(有無(wú)開(kāi)路、短路 ),以及二極管、三極管、集成塊等器件的功能邏輯(部分針床式ICT可測(cè) ) 。
    • 方法:依賴針床/飛針測(cè)試設(shè)備,針床式需制作專用夾具(與電路板測(cè)試點(diǎn)匹配 ),飛針式用可移動(dòng)探針代替針床;通過(guò)施加微小電壓、電流,采集數(shù)據(jù)與標(biāo)準(zhǔn)值對(duì)比判斷是否合格 。
  • 首件檢測(cè)
    • 內(nèi)容:更側(cè)重生產(chǎn)條件驗(yàn)證,涵蓋:
      • 物料核對(duì):檢查元器件型號(hào)、規(guī)格、絲印、方向、極性等是否與BOM(物料清單 )一致,有無(wú)錯(cuò)件、漏件、反件;
      • 焊接質(zhì)量:通過(guò)AOI(自動(dòng)光學(xué)檢測(cè) )、人工目檢或X – Ray(針對(duì)BGA等隱蔽焊點(diǎn) ),查看焊點(diǎn)外觀(如是否橋連、虛焊、立碑 );
      • 工藝合規(guī)性:確認(rèn)錫膏印刷質(zhì)量(如厚度、偏移 )、元器件貼裝精度,以及生產(chǎn)設(shè)備參數(shù)(如貼片機(jī)吸嘴、回流焊溫度曲線 )是否符合工藝要求 。
    • 方法:靈活多樣,可組合使用:
      • 人工目檢 + 萬(wàn)用表/ LCR表(簡(jiǎn)易場(chǎng)景,手動(dòng)測(cè)量關(guān)鍵元器件參數(shù)、核對(duì)物料 );
      • AOI自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)(通過(guò)圖像識(shí)別判斷元器件貼裝、焊接外觀問(wèn)題 );
      • 首件測(cè)試系統(tǒng)(集成BOM導(dǎo)入、自動(dòng)采集數(shù)據(jù)與標(biāo)準(zhǔn)對(duì)比,如關(guān)聯(lián)LCR、AOI數(shù)據(jù) );
      • X – Ray檢測(cè)(針對(duì)BGA等焊點(diǎn)隱蔽的元器件,透視內(nèi)部焊接質(zhì)量 ) 。

四、測(cè)試特點(diǎn)與作用

  • ICT測(cè)試
    • 特點(diǎn)
      • 全面性:覆蓋電路板大部分元器件與電路網(wǎng)絡(luò),能檢測(cè)電性參數(shù)、焊接連通性;
      • 效率高:量產(chǎn)階段測(cè)試速度快,適配流水線批量檢測(cè);
      • 依賴治具:針床式需定制夾具(開(kāi)發(fā)周期、成本較高 ),飛針式雖無(wú)需夾具但測(cè)試速度慢于針床 。
    • 作用:篩選焊接不良、元器件參數(shù)異常等問(wèn)題,是PCBA功能測(cè)試前的基礎(chǔ)電氣檢測(cè),及時(shí)攔截單板電氣故障,減少流入后工序的不良品 。
  • 首件檢測(cè)
    • 特點(diǎn)
      • 預(yù)防性:提前驗(yàn)證生產(chǎn)要素(人、機(jī)、料、法 )是否正確,從源頭降低批量風(fēng)險(xiǎn);
      • 靈活性:檢測(cè)方法多樣,可根據(jù)產(chǎn)品復(fù)雜度、生產(chǎn)條件組合選擇;
      • 人工參與度高:簡(jiǎn)易場(chǎng)景依賴人工核對(duì),復(fù)雜場(chǎng)景結(jié)合自動(dòng)化設(shè)備,但核心是對(duì)生產(chǎn)首件的全方位驗(yàn)證 。
    • 作用:防止因物料錯(cuò)漏、設(shè)備參數(shù)錯(cuò)誤、工藝偏差等導(dǎo)致的批量報(bào)廢,是SMT生產(chǎn)“事前控制”的關(guān)鍵手段,保障產(chǎn)線穩(wěn)定與產(chǎn)品一致性 。

五、成本與適用場(chǎng)景

  • ICT測(cè)試
    • 成本:針床式需投入夾具開(kāi)發(fā)成本(時(shí)間、費(fèi)用 ),飛針式設(shè)備成本高但夾具成本低;量產(chǎn)階段單塊板測(cè)試成本低,適合大規(guī)模生產(chǎn) 。
    • 適用場(chǎng)景:已量產(chǎn)機(jī)種的常規(guī)電氣檢測(cè),尤其適合元器件密集、電路復(fù)雜的電路板,高效排查焊接與元器件電氣故障 。
  • 首件檢測(cè)
    • 成本:主要是人力、時(shí)間成本(如人工核對(duì)、設(shè)備調(diào)試驗(yàn)證 ),若用自動(dòng)化首件系統(tǒng),前期需投入設(shè)備成本,但可長(zhǎng)期降低因批量不良的損失 。
    • 適用場(chǎng)景:生產(chǎn)啟動(dòng)、變更(換線、換料、改工藝 )時(shí)的必做環(huán)節(jié),所有SMT產(chǎn)線都需執(zhí)行,是保障批次質(zhì)量的基礎(chǔ)防線 。

簡(jiǎn)單來(lái)說(shuō),ICT測(cè)試是量產(chǎn)中對(duì)電路板電氣性能的“全面體檢”,首件檢測(cè)是生產(chǎn)初始對(duì)“生產(chǎn)條件正確性”的“把關(guān)驗(yàn)證”;ICT聚焦單板電氣質(zhì)量,首件檢測(cè)聚焦批次生產(chǎn)風(fēng)險(xiǎn)預(yù)防,二者共同保障SMT生產(chǎn)的品質(zhì)與效率 。

上一篇: 下一篇:

相關(guān)推薦

  • 提升 PCBA 植針率的全流程優(yōu)化

    207

    在 ICT(In-Circuit Test,在線測(cè)試)中,PCBA 的植針率(即探針與測(cè)試點(diǎn)的有效接觸率)直接影響測(cè)試準(zhǔn)確性和效率。提升植針率需從設(shè)計(jì)優(yōu)化、探針管理、治具維護(hù)、PCBA 質(zhì)量控制等多維度入手,具體措施如下: 測(cè)試點(diǎn)的設(shè)計(jì)是提升植針率的基礎(chǔ),需從源頭避免接觸...

    查看全文
  • ICT頻繁報(bào) “開(kāi)路” 或 “接觸錯(cuò)誤”

    236

    現(xiàn)象:同一測(cè)試點(diǎn)反復(fù)測(cè)試失敗,更換 PCB 后仍在相同位置報(bào)錯(cuò)。一測(cè)就報(bào) N 個(gè)開(kāi)路點(diǎn),有的板子重測(cè)又好了。 板面問(wèn)題 治具/探針問(wèn)題 測(cè)試方法/電氣設(shè)置 環(huán)境與流程 清潔/更換周期沒(méi)管控,針頭與板面都“越測(cè)越臟” 快速定位(1...

    查看全文
  • 針床式ICT 與飛針式ICT 的優(yōu)缺點(diǎn)對(duì)比

    555

    一、針床式在線測(cè)試(In-Circuit Test,簡(jiǎn)稱 ICT) 定義:通過(guò)定制化的測(cè)試治具(針床夾具),利用探針陣列與PCB上的測(cè)試點(diǎn)接觸,實(shí)現(xiàn)電路連通性、元件參數(shù)等全面測(cè)試。 優(yōu)點(diǎn): 測(cè)試效率高 測(cè)試精度與可靠性高 自動(dòng)化程度高 長(zhǎng)期成本低(...

    查看全文

0